了解英特尔的 18A 先进制程节点及其关键技术
这个计划的终极目标,便是Intel 18A制程。它并非一次常规的节点迭代,而是英特尔押上声誉的”王者归来”之作,该工艺将率先应用于即将推出的移动端处理器“Panther Lake”以及数据中心处理器“Clearwater Forest”等产品上。
在近日举行的 2025 年超大规模集成电路技术与电路研讨会上,英特尔详细阐述了其下一代18A工艺节点的技术细节。
RibbonFET(环绕栅极晶体管)和 PowerVia(背面供电技术)
在深入RibbonFET之前,我们必须理解它所要取代的技术——鳍式场效应晶体管(FinFET)。FinFET通过将晶体管的沟道(Channel)从平面变为立体的”鳍片”,让栅极(Gate)可以从三面包围沟道,从而极大地改善了栅极对电流的控制能力,有效抑制了短沟道效应和漏电流,是22nm节点以来的绝对主力。
然而,当制程迈向3nm及以下时,FinFET也遇到了瓶颈:
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静电控制减弱:随着”鳍片”越来越窄,其物理尺寸已无法再有效缩小,栅极三面包裹的控制力开始不足,漏电问题再次变得严峻。
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性能提升受限:增加驱动电流(从而提升性能)需要更宽的鳍片,但这又与提升晶体管密度的目标背道而驰。
Intel 18A的先进性,正是对上述挑战的正面回应。它同时在两个维度上进行了根本性的创新:晶体管本身的设计,以及为晶体管供电的方式。
是英特尔对环栅(Gate-All-Around, GAA)晶体管架构的实现。如果说FinFET是让栅极”三面”包围沟道,那么GAA就是让栅极从”四面”彻底包裹住沟道。
从 18A RibbonFET 技术开始,英特尔将从 FinFET 技术实现重大飞跃,在栅极静电方面进行改进,与 FinFET 相比,单位面积的有效宽度更大,单位面积的寄生电容更小,并且灵活性也得到提升。
英特尔还通过为 180H 和 160H 库引入多种 Ribbon 宽度,通过 DTCO 优化逻辑功耗/泄漏与性能,以及为 SRAM 优化位单元性能的专用 Ribbon 宽度,提高了 RibbonFET 相对于 FinFET 的设计灵活性,所有这些都增强了在 18A 节点上制造的下一代芯片的性能和设计能力。
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极致的漏电控制:四面包裹的栅极将漏电流降至最低,为先进制程的更高能效比奠定了基础。
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可变的通道宽度:通过调整堆叠纳米片的数量和宽度,设计师可以在不牺牲面积的前提下,灵活地为不同任务(例如高性能计算或低功耗移动应用)定制晶体管的性能,这是FinFET无法做到的。
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更高的晶体管密度:GAA架构本身在垂直方向上的扩展性,为在相同面积内集成更多晶体管提供了可能。
PowerVia则颠覆了”如何供电”的传统模式。
开创性地引入了背面供电(Backside Power Delivery)技术。它将电源网络和信号网络彻底分离:
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芯片正面:专门用于信号互连,线路布局更简洁、高效。
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芯片背面:专门用于构建供电网络,可以铺设更粗、更直接的供电线路。
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性能与效率提升:通过优化供电,PowerVia显著降低了电压降,提升了能源效率。英特尔表示,这能带来超过6%的频率提升。
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简化布线,提高密度:将电源线移至背面,极大地释放了正面的布线空间,使得信号路径更优,同时也让晶体管的布局可以更加紧凑,单元利用率提升5-10%。
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加速产品开发:简化的布线规则可以缩短芯片的设计周期。
技术指标 | Intel 18A |
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高性能/高密度单元库高度 (nm) | 180 / 160 |
接触栅间距 (nm) | 50 |
M0 金属层间距 (nm) | 32 |
SRAM 单元面积 (µm²) | HCC: 0.023 / HDC: 0.021 |
正面金属层数 | 10-16层(根据需求) |
背面金属层数 | 3层 + 3层 |
这场豪赌的目标直指台积电的N2和三星的2nm GAA工艺。凭借PowerVia这一差异化优势,英特尔有望在性能、功耗和密度(PPA)的关键指标上,于2025年左右重回行业领先地位。
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