高速数字接口原理与测试指南 PDF 电子书

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《高速数字接口原理与测试指南》图书简介

《高速数字接口原理与测试指南》,清华大学出版社出版,作者:李凯 著。本书结合作者多年从事高速数字设计和测试的经验,对高速数字信号的基本概念、测试理念、测试方法及发展趋势进行更深入的解读和浅显易懂的阐释。本书可用于指导相关设计、开发、测试人员的工作,也可供广大电子行业的技术爱好者做为科普读物了解当今电子系统的发展趋势。

本书的特点是深入浅出并结合实际应用。书中没有复杂的公式和数学推导,所有重要的概念都是结合实验和实测数据进行生动的讲解,即使只掌握基本数字电路基础知识的本科生读起来也不会觉得费劲。本书的内容大多是现代高速数字电路的关键的技术,了解了这些技术的来龙去脉后,再深入学习或阅读专业技术文章就会更加得心应手。由于作者多年的实际应用经验积累及悉心整理,书中还提供了大量精美图片,包括实际波形、测量数据、常用仪表、技术方案等,这些都和电子工程人员的日常实际工作息息相关,可以帮助读者直观了解到当今的技术发展水平及业界领先的测试方法。

《高速数字接口原理与测试指南》图书目录

上部 高速数字信号测量原理
第1章 无处不在的数字接口

第2章 数字信号基础
2.1 什么是数字信号(Digital Signal)
2.2 数字信号的上升时间(Rising Time)
2.3 数字信号的带宽(Bandwidth)
2.4 数字信号的建立/保持时间(Setup/Hold Time)
2.5 并行总线与串行总线(Parallel and Serial Bus)
2.6 单端信号与差分信号(Single-ended and Differential Signals)
2.7 数字信号的时钟分配(Clock Distribution)
2.8 串行总线的8b/10b编码(8b/10b Encoding)
2.9 伪随机码型(PRBS)
2.10 传输线对数字信号的影响(Transmission Line Effects)
2.11 数字信号的预加重(Pre-emphasis)
2.12 数字信号的均衡(Equalization)
2.13 数字信号的抖动(Jitter)
2.14 扩频时钟(SSC)

第3章 数字测试基础
3.1 数字信号的波形分析(Waveform Analysis)
3.2 数字信号的眼图分析(Eye Diagram Analysis)
3.3 眼图的参数测量(Eye Diagram Measurement)
3.4 眼图的模板测试(Mask Test)
3.5 数字信号抖动的成因(Root Cause of Jitter)
3.6 数字信号的抖动分解(Jitter Seperation)
3.7 串行数据的时钟恢复(Clock Recovery)
3.8 示波器的抖动测量能力(Jitter Measurement Floor of Scope)
3.9 相位噪声测量(Phase Noise Measurement)
3.10 传输线的特征阻抗(Characteristic Impedance)
3.11 特征阻抗的TDR测试(Time Domain Reflectometer)
3.12 传输线的建模分析(Transmission Line Modelling)

第4章 实时示波器原理
4.1 模拟示波器(Analog Oscilloscope)
4.2 数字存储示波器(Digital Storage Oscilloscope)
4.3 示波器的带宽(Bandwidth)
4.4 示波器的频响方式(Frequency Response)
4.5 示波器带宽对测量的影响(Bandwidth Impact)
4.6 示波器的带宽增强技术(Bandwidth Enhancement Technology)
4.7 示波器的频带交织技术(Bandwidth Interleaving Technology)
4.8 示波器的采样技术(Sampling Technology)
4.9 示波器的分辨率(Vertical Resolution)
4.10 示波器的直流电压测量精度(DC Voltage Accuracy)
4.11 示波器的时间测量精度(Delta-Time Accuracy)
4.12 示波器的等效位数(ENOB)
4.13 示波器的高分辨率模式(High Resolution)
4.14 示波器的内存深度(Memory Depth)
4.15 示波器的死区时间(Dead Time)
4.16 示波器的显示模式(Display Mode)
4.17 示波器的触发(Trigger)
4.18 示波器的触发条件(Trigger Conditions)
4.19 示波器的触发模式(Trigger Mode)
4.20 示波器的测量速度(Measurement update rate)
附录 Agilent 公司90000X系列高端示波器原理

第5章 示波器探头原理
5.1 高阻无源探头(High Impedance Passive Probe)
5.2 无源探头的常用附件(Passive Probe Accessories)
5.3 低阻无源探头(Low Impedance Passive Probe)
5.4 有源探头(Active Probe)
5.5 差分探头(Differential Probe)
5.6 电流探头(Current Probe)
5.7 高灵敏度探头(High-sensitivity Probe)
5.8 探头连接前端对测量的影响(Probe Head)
5.9 探头衰减比对测量的影响(Probe Attenuation Ratio)
5.10 探头的校准方法(Probe Calibration)

第6章其他常用数字测量仪器
6.1采样示波器(Sampling Oscilloscope)
6.2矢量网络分析仪与TDR(VNA and TDR)
6.3逻辑分析仪(Logic Analyzer)
6.4协议分析仪(Protocol Analyzer)
6.5误码分析仪(Bit Error Ratio Tester)
附录1Agilent公司U4154A逻辑分析仪简介
附录2示波器协议解码功能和协议分析仪的区别

第7章常用测量技巧
7.1电源纹波噪声测试方法
7.2时间间隔测量
7.3如何用示波器进行ps级时间精度的测量
7.4怎样测量PLL电路的锁定时间
7.5T型头和功分器的区别
7.6如何克服测试电缆对高频测量的影响

第8章用多台仪器搭建自动测试系统
8.1自动化测试系统
8.2LXI测试系统的硬件平台
8.3LXI测试系统的软件架构
8.4LXI测试系统的优点
8.5LXI测试系统的兼容性问题
8.6LXI测试系统的时钟同步
8.7LXI测试系统的网络安全性

下部高速数字接口及测试方法

第9章PCI-E简介及信号和协议测试方法
9.1PCI-E总线简介
9.2PCI-E 协会简介
9.3PCI-E信号质量测试
9.4PCI-E协议调试和测试
9.5PCI-E测试总结和常见问题

第10章PCI-E 3.0简介及信号和协议测试方法

第11章SATA简介及信号和协议测试方法

第12章Ethernet简介及信号测试方法

第13章MIPI D-PHY简介及信号和协议测试方法

第14章MIPI M-PHY简介及信号和协议测试方法

第15章存储器简介及信号和协议测试

第16章USB 2.0简介及信号和协议测试

第17章USB 3.0简介及信号和协议测试

第18章HDMI 简介及信号和协议测试

第19章MHL简介及信号和协议测试

第20章DisplayPort简介及信号测试

第21章LVDS传输系统简介及测试

第22章MIL-STD-1553B简介及测试

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吴川斌

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